量检测设备
Metrology Equipment
量检测设备- Hitachi
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CDSEM CG4000
Hitachi CDSEM CG4000 是一种高级的扫描电子显微镜，用于精确测量半导体器件的尺寸。它能够提供非常细致的图像和准确的测量结果，确保产品符合严格的质量标准。¥ 0.00立即购买
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CDSEM S9380
Hitachi CD-SEM S9380是一款高性能的临界尺寸扫描电子显微镜，广泛应用于半导体制造中的图案尺寸测量和质量控制。¥ 0.00立即购买
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CDSEM S9300
Hitachi CD-SEM S9300是一款高性能的临界尺寸扫描电子显微镜（CD-SEM），广泛应用于半导体制造和研发领域，用于测量精细图案的尺寸和进行质量控制。¥ 0.00立即购买
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CDSEM S8840
Hitachi CD-SEM S8840是一款高性能的临界尺寸扫描电子显微镜（CD-SEM），广泛应用于半导体制造、材料科学和研发领域。¥ 0.00立即购买
